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电阻率测试仪 两探针分析仪 测锗锭 电阻率检测仪

  • 简单描述
  • 可测电阻率:锗晶体0.1-100Ω·cm

    可测锗锭尺寸:Z大长度700mm;Z大高度50mm;Z大宽度60mm。
  • 产品型号:  DL04-KDY-2
  • 更新时间:  2024-03-02
  • 访问次数:  1459
详细介绍

电阻率测试仪 两探针测试仪 测锗锭 电阻率检测仪

型号:DL04-KDY-2                      

主机技术参数

1)测量范围:

可测电阻率:锗晶体0.1-100Ω·cm

可测锗锭尺寸:zui大长度700mm;zui大高度50mm;zui大宽度60mm

2)恒流源:

输出电流:DC 0.004-100mA 五档连续可调

量程:0.004-0.01mA

0.04-0.10mA

0.4-1.0mA

4.0-10mA

40-100mA

恒流精度:各档均优于±0.05%

3)直流数字电压表:

测量范围:0-199.99mV

灵敏度:10μA

基本误差:±(0.004%读数+0.01%满度)

输入阻抗:≥1000MΩ

4)电阻测量误差:≤0.3%

5)两探针头:KDT-5

探针间距:10.00±0.02mm

游移率:0.02-0.05%

探针压力:4±1N/单针

6)供电电源:

AC 220V ±10% 50/60Hz 功率:12W

7)使用环境:

温度:23±2 相对温度:≤65%

无较强的电场干扰,无强光直接照射。

8)重量、体积:

主机重量:7.5Kg

体积:390×340×190(单位:mm 长度×宽度×高度)

 

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:李

 

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